Определение параметров надежности проектируемого устройства

Средняя наработка на отказ определяется по формуле (1.3)

Вероятность безотказной работы определяется по формуле (1.4)

Гамма -процентный срок сохраняемости определяется по формуле (1.5)

Результаты расчётов показали, что применение облегченных режимов эксплуатации и более детальный учёт внешних условий позволили увеличить показатели надежности более чем на порядок.

Таблица 1.4- Интенсивность отказов компонентов с учетом внешних условий и облегченного режима эксплуатации

Интенсивность отказов нормальном режиме,1/ч	0,35	0,35	0,40	0,20	0,40	0,42	0,42	0,42	0,42	0,2	0,2	0,2	0,2	0,81	0,81	0,1	1	6,13
Поправочный к- т К5	0,35	0,35	0,40	0,20	0,40	0,42	0,42	0,42	0,42	0,2	0,2	0,2	0,2	0,81	0,81	0,1	1
Поправочный к-т К4	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Поправочный к-т К3	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Поправочный к-т К2	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Интенсивность отказов внорм. режиме, 1/ч	1	1	0,15	0,21	1,05	0,172	0,215	0,258	0,258	0,026	0,013	0,013	0,013	0,4	2,2	0,15	1,9
Тип элемента	КТ639Д	КТ639Д	К10П-4	К50-46	К10П-4	С233Н-0,125	С2-11	С2-1-0,125	С2-6	К155А7	TL494	AT90S8535	VD16244	Д1N401	KД50A	ПКн105М-1…4
Схемное обозначение	VT1-VT2	VT1-VT2	С1	С2-С4,С6-С8	С5,С6, С9-С12	R1,R6,R8R10,R16	R2,R21,R3R5,R22	R17R20,R11R12, R22	R23R29,R7,R13,R15	DD1.1-DD1.2	DD2	DD3	DD4	VD1-VD2	VD5-VD14	SA1-SA4
Элемент	Транзистор	Транзистор	Конденсатор	Конденсатор	Конденсатор	Резистор	Резистор	Резистор	Резистор	Микросхема	Микросхема	Микросхема	Микросхема	Диод	Диод	Пер.кноп.	Пайка

Перейти на страницу: 1 2 3

Статья в тему

Широкополосный усилитель переменных сигналов
нелинейный Значительные изменения во многих областях науки и техники обусловлены развитием электроники. На сегодняшний день невозможно найти какую-либо отрасль промышленности, в которой не использовались бы электронные приборы или электронные устройства измерительной техники, автоматики, а ...

Главные разделы