Global Informatics
Определяем площадь SCi, занимаемую конденсатором.
Площадь конденсатора определяется площадью диэлектрика:
SCi= Sд= АД ·ВД
Для конденсатора Cl: SС1= SД = = см2
Для конденсатора С2: SС2 = SД = = см2
Для конденсатора С3: SС3 = SД == см2
Расcчитаем добротность Qiконденсатора по формуле:
Qi = 1/tgdi,
гдеtgdi = tgdД + tgdоб;dД = 0,001 - тангенс угла диэлектрических потерь в диэлектрике на частоте 1кГц, который является постоянной справочной величиной, его значение берется из табл. 1.2.1;
tgdоб - тангенс угла потерь в обкладках конденсатора, который определяется по формуле:
dоб = 4p¦Ci(rв + rн)/1012,
где f = 1000 Гц - частота, на которой измеряются потери; Ci - номинал емкости конденсатора [пФ];
rв и rн - сопротивления соответственно верхней и нижней обкладок конденсатора, [Ом], для конденсатора квадратной формы rв = rн = ρSобкл = 0,2 Ом/□, значение берется из табл.4.5 методических указаний (0.06…0.1). Для алюминиевых обкладок: Для конденсатора Cl:
Для конденсатора C2:
Для конденсатора C3:
Определим общую площадь конденсаторов на подложке ИМС.
Общая площадь SCG тонкопленочных конденсаторов на подложке рассчитывается по формуле:
где G - количество конденсаторов на подложке ИМС.
см2.
После произведенных расчетов конденсаторы, расположенные на подложке ИМС, изображены на рис. 3.2.2 (масштаб 20:1):
Рис.3.2.2
3.3 Расчет пленочных проводников и контактных площадок ИМС
Выбор материала проводников и контактных площадок производиться из табл. 1.2 и 1.5 в соответствии с вариантом. Для обеспечения высокой технологичности при производстве ИМС пленочные проводники и контактные площадки изготавливаются из одного и того же материала - алюминия с подслоем нихрома. Определение геометрических параметров соединительных проводников.
Длина linpi-гo проводника, соединенного с резистором номиналом Ri, определяется, исходя из условия:
Riпр= rsпрℓiпр /biпр£Rпр.доп = (0,1…0,2)½dRi½Ri,
где rsпр - удельное поверхностное сопротивление материала проводника rsпр= 0,1 Ом/□; biпр - ширина проводника; dRi - отклонение от номинала Ri, заданное в исходных данных (см. табл. 1.1).
Тогда:
ℓiпр£ (0,1…0,2)biпр½dRi½Ri/rsпр.
Ширина biпр i-го проводника задается, исходя из условия, что biпр не более ширины резистивной пленки bрасч(см. формулу (4.13)) и соответствует технологическим ограничениям bтехн, т.е.
iпр = max {bрасч. , bтехн.},
bnp = max{242,}.
Статья в тему
Структурные схемы надежности
Расчёты надёжности - это расчёты, предназначенные для определения
количественных показателей надёжности.
На этапе проектирования расчёт надёжности проводится с целью
прогнозирования надёжности проектируемой системы.
На этапе испытаний и эксплуатации расчёт надёжности проводится д ...